Development and design of a novel industrial energy-dispersive x-ray reflectometer for analysis of liquid and solid superfaces and interfaces
4РП — Обучение и мобилност на изследователи
- Период
- 1996-01-10 → 1999-06-09
- Финансиране от ЕС
- —
- Участници
- 2
- Схема
- RGI
Линиите свързват координатора с партньорите. За проекти отпреди 2014 г. CORDIS не винаги дава точни координати. Тези точки са на ниво град или държава.
Накратко на български
Новият рентгенов рефлектометър ще анализира повърхности и интерфейси на твърди и течни вещества, например тънки слоеве от материали. По-бързото измерване ще помогне за проследяване на структурни промени в реално време при производството на стъкла и полупроводници.
Кратко обяснение, генерирано от езиков модел по текста на CORDIS. Оригиналът е по-долу.
Цел на проекта
The aim of the work is to transfer the well-known energy-dispersive time-of-flight neutron reflectometry technique to a X-ray reflection technique. Based upon this measuring method a novel, industrial energy-dispersive X-ray reflectometer should be developed. Using this novel X-ray reflectometer faster analysis of thin film systems should be possible compared to nowadays used angular-dispersive X-ray reflectometers. This new reflectometer will be based on the already commercially available angular-dispersive industrial Siemens D5000 X-ray reflectometer with laboratory sealed X-ray tubes. Because of faster measuring times and other specific advantages this new reflectometer will be a suitable tool to study in situ structural changes at surfaces and interfaces and respectively to allow fast routine process controls in glass industries or in semiconductor industries which is not possible with already commercially available X-ray reflectometers. The development will be done in close collaboration with Siemens Analytical X-ray Instruments, development department, Siemens AG, Karlsruhe (DE). (148 words)
Оригинален текст от CORDIS (на английски).
Участници
Връзки
Данни: CORDIS, © Европейски съюз