Epitaxial growth and magnetic properties of thin transition metal films on hydrogen passivated silicon surfaces
4РП — Обучение и мобилност на изследователи
- Период
- 1996-03-01 → 1997-02-28
- Финансиране от ЕС
- —
- Участници
- 2
- Схема
- RGI
Линиите свързват координатора с партньорите. За проекти отпреди 2014 г. CORDIS не винаги дава точни координати. Тези точки са на ниво град или държава.
Накратко на български
Тънки метални слоеве от кобалт и желязо се отлагат върху силициеви повърхности, защитени с водород. Това помага да се разбере как да се избегне образуването на нежелани съединения и как да се създадат качествени интерфейси между метали и полупроводници.
Кратко обяснение, генерирано от езиков модел по текста на CORDIS. Оригиналът е по-долу.
Цел на проекта
One of the main objectives of the present proposal is the realization of epitaxial growth of thin metallic films particularly of ferromagnetic materials as Co and Fe on Si(111)1x1-H and Si(113)1x1-H surfaces. These systems will be prepared wet chemically and electrochemically following well established recipes. Under certain growth conditions the deposition on these substrates is believed to form ideal Schottky- barriers if the H bond to the Si substrate surface can be conserved. The hydrogen passivation of the Si surface seems to remain upon metal deposition preventing the undesired silicide formation at the metal- semiconductor interface. One of my tasks will be to elucidate the optimum growth procedures by determining the critical factors during the process like substrate surface temperatures and metal depostion rates. These experiments are of fundamental importance to provide appropriate multilayer systems for further investigations. Surface analysis techniques like LEED, IRAS, ARUPS and synchrotron radiation will be used to characterize the growth mechanism and the dynamic and magnetic properties of the metal-semiconductor systems.
Оригинален текст от CORDIS (на английски).
Участници
Връзки
Данни: CORDIS, © Европейски съюз